近日，电子科技大学自动化工程学院核探测技术与成像团队针对传统密度成像工具在薄层识别中存在分辨率低、测量误差大以及放射性风险高等问题，提出了一种基于可控X射线源的新型成像方法，并结合优化的Fisher分割算法对薄层特征进行识别与参数反演。相关成果发表在《石油科学》上。
研究首先采用X射线源替代传统的Cs-137放射源，在提升纵向分辨率的同时显著降低辐射风险。仿真结果表明，该新型X射线工具在保持灵敏度的前提下，具有更优的探测深度与分辨能力。随后，团队将薄层界面识别问题转化为数学聚类问题，并采用非线性最小二乘法对薄层参数进行拟合与估算。实验验证显示，该方法在复杂地层条件下展现出更高的识别精度与应用潜力，为后续薄层油气藏的精细评估提供了有力支持。
本成果依托于电子科技大学核探测技术与成像团队，该团队长期致力于核测井仪器设计、脉冲中子与X射线可控源理论、以及数字化蒙特卡罗模拟平台集成等方向的研究，已构建起“电子科技大学—中海油服核测井联合实验室”，打造了跨学院、跨学科的科研创新平台。
相关论文信息：https://doi.org/10.1016/j.petsci.2025.05.022
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